扣除暗场
每次运行都会在关闭偏置的状态下拍摄暗场帧并将其扣除。杂散光和传感器偏移不会进入您的图像。
电致发光成像
整块组件的 65 MP 电致发光图像,每像素 0.2 mm,一次运行拍摄两档电流。随后,异常分析将其与同型号组件的参考进行比对,告诉您问题是什么、在哪里,以及让这片电池损失了多少。


将鼠标移到电池上,或用手指触摸,即可近看。
这是组件中的一片半片电池,按原始分辨率直接从图像中截取,未经插值放大,仅叠加查看器默认的显示锐化。91 x 182 mm 的硅片对应 462 x 900 像素,约 415 000 像素。台架上的每台相机均为 5 MP 传感器,配广角镜头并贴近组件安装,像素都用在硅片上,而不是浪费在距离上。
这片电池中:一条从上边缘延伸的弧形微裂纹,一处横跨主栅的 T 形失效区域,以及若干小暗点。每一条主栅线都清晰可辨。
每次运行都会在关闭偏置的状态下拍摄暗场帧并将其扣除。杂散光和传感器偏移不会进入您的图像。
每种组件型号都有自己的曝光参数,由设备通过几次试拍自行确定。电池不会过曝,动态范围也不会浪费。
像素饱和、引线脱离组件、某台相机没有响应:该次拍摄会被标记,并附上一句技术人员看得懂的说明,保留用于诊断,绝不会被当作正常图像进行分析。
大电流显示裂纹和失效区域。小电流揭示大电流掩盖的问题:漏电、偏弱电池以及掉电的电池。一个电致发光配方在同一次运行中拍摄两档,组件全程不动,两张图像逐像素对齐。

Isc(8 A)0.1 x Isc(0.8 A)电流可按组件 Isc 的比例或以安培设定,另有电压上限和曝光:每种组件型号一个配方,随被测件(DUT)自动调用。
先拍一次暗场,再依次拍摄各档,光输出一旦稳定即结束等待。运行时间短,组件保持不动。
将一张图像除以另一张,或对比同一组件在应力试验前后的图像,逐片电池匹配亮度水平,准确看出变化之处。
每张图像都会与其组件型号的参考进行比对,该参考由合格组件的图像建立。与预期不符之处会绘制在图像上,细小特征以火焰色显示,大面积区域以青色显示,随后归类为各项发现,并逐片电池评分。无需针对每种缺陷调节阈值,也无需编写规则。

指向一片电池,查看其质量指数及其中的发现。
每片电池都有一个质量指数:100 % 表示完美的电池,0 % 表示等同于没有电池。整体仅略微偏暗的电池不扣分,裂纹按长度计,失效区域按面积计。可据此排序、分档,或据此停线。
当一次运行包含两次拍摄时,软件会将两者的分析结果合并。
在该次运行的两张图像中均被发现,因此并非单帧噪声。一键即可隐藏仅在一张图像中出现的细小标记。
在 0.8 A 下比 8 A 下更暗的电池或区域会被标记为漏电,旁边标注两个百分比。
在 8 A 下比 0.8 A 下更暗,说明是串联电阻问题:接触或互连不良,而非硅片本身。
将一张图像除以另一张,软件会逐像素显示组件表现不同之处:8 A 图像对比 0.8 A 图像,或同一组件在应力试验前后的对比。两张图像先被调整到相同的亮度水平,而这一水平在什么范围内取得,决定了您看到的内容。

示例运行的差分,8 A 除以 0.8 A,由两张真实图像按软件默认设置计算得出。
同一组件的任意两个结果均可对比:湿热、热循环或机械载荷试验前后。图像以组件边角为基准对齐。
每片电池、每个点周围(仅保留最细微的细节)、整块组件,或保持原样。比值或差值、平滑、排除电池边界、范围和阈值,全部可自行设定。
图像旁边:差分直方图、均值与离散度、超出阈值的组件面积占比,以及变化最大的十二片电池,一键即可逐一打开。
示例中的四片电池,原始分辨率。将鼠标悬停在图像上即可移除标记,查看其下的内容。

B24 · 8 A电池的一大部分被隔断并呈暗色:以青色显示的大面积区域。8 A 下整块组件中质量最低的电池。

B22 · 8 A上方特写中的弧形裂纹和 T 形裂纹,以火焰色描出,周围还有小斑点。

C12 · 8 A一条长裂纹,旁边有一处劣化区域,比电池其余部分暗 30 %,在两档电流下同样偏暗。

C23 · 0.8 A在 0.8 A 下比典型电池暗 59 %,在 8 A 下仅暗 8 %:小电流下更暗,因此软件判定为漏电。
悬停以隐藏标记
电致发光工作区与 PVStudio 中的 IV 结果并列。
瓦片式图像金字塔:完整的 65 MP 图像平移与缩放无需等待。
悬停任意电池即可放大,用键盘逐片切换。
灰度、inferno、magma、viridis、turbo 等,支持色阶与对比度均衡:仅用于观察,数据从不重新编码。
细小与大面积图层、阈值、颜色,以及按住即可隐藏标记、查看其下内容的快捷键。
附加并对齐一张组件的普通照片,与电致发光图像对比。
任意结果均可按全分辨率导出为 PNG、TIFF 或 JPEG,用于您的报告和客户。
可隐藏特定类型,操作员也可在图像上添加自己的标记。标记随结果一同保存。
电致发光图像与 IV 曲线在同一次运行中拍摄,并保存在同一份测量中,组件的功率与其图像永不分离。
分析引擎以签名、加密的软件包通过 Pasan Cloud 下发。您的设备无需重新安装即可持续改进。
Electroluminescence Imaging 在 PVStudio 中与 I-V 测量并行运行,位于同一工位,记录在同一测量文件中。
光伏组件电致发光成像有专门的 IEC 技术规范,认证实验室在每项应力试验前后都会使用电致发光成像。Electroluminescence Imaging 同时面向这两种需求。
光伏组件电致发光:组件在暗处正向偏置,相机感知近红外光,一张图像在 Isc 下拍摄,一张在较低电流下拍摄。我们的电致发光台架在一次运行中正好拍摄这一对图像:Isc 和十分之一 Isc。
认证与安全测试:热循环、湿热、机械载荷。实验室在每个试验序列前后对组件成像;差分功能逐片电池对比两张图像,显示应力造成的影响。
同一次运行的 I-V 曲线,在 Nexun 或 HighLIGHT 模拟器上测得,与电致发光图像保存在同一份测量中:同一组件的功率与图像,永不分离。
自 1978 年起,Pasan 就为组件制造商和测试实验室打造基准太阳模拟器;自 2018 年起,Avalon ST 一直制造全 LED 模拟器。Electroluminescence Imaging 出自同一批工程师:相机、台架电子系统、分析和软件均为自主设计,我们每天都在用它们进行测量。